Lumetrics 測厚儀是基于光學(xué)干涉原理設(shè)計(jì)的。當(dāng)光線通過物體時(shí)，會發(fā)生干涉現(xiàn)象，根據(jù)干涉的特性可以推斷出物體的厚度。利用光學(xué)干涉技術(shù)，通過測量光線的干涉圖案來確定物體的厚度。它使用一束激光光源照射在被測物體表面，光線經(jīng)過物體后會發(fā)生干涉，然后通過檢測器采集干涉圖案，通過算法處理得到物體的厚度信息。
 

　　它具有高精度的測量能力。由于采用了光學(xué)干涉原理，可以實(shí)現(xiàn)亞微米級甚至納米級的測量精度，非常適用于對薄膜、涂層等薄型材料的測量。其次，具有非接觸測量的特點(diǎn)，不會對被測物體造成損傷或變形，保證了測量結(jié)果的準(zhǔn)確性和可靠性。此外，操作簡單、快速，可以實(shí)現(xiàn)實(shí)時(shí)測量和在線監(jiān)測，提高了工作效率。
 

　　Lumetrics 測厚儀在許多領(lǐng)域中得到廣泛應(yīng)用。在制造業(yè)中，可以用于對薄膜、涂層、玻璃、塑料等材料的厚度進(jìn)行測量和控制，保證產(chǎn)品質(zhì)量和一致性。在醫(yī)療器械和藥品行業(yè)中，可以用于對醫(yī)療器械、藥片、膠囊等的厚度進(jìn)行測量，確保產(chǎn)品符合規(guī)定的標(biāo)準(zhǔn)。在光學(xué)和電子行業(yè)中，可以用于對光學(xué)元件、顯示屏、半導(dǎo)體芯片等的厚度進(jìn)行測量和質(zhì)量控制。此外，還可以應(yīng)用于食品加工、紡織、化工等行業(yè)。

  

　　Lumetrics 測厚儀的操作使用步驟：
 

　　1.確保電源供應(yīng)正常，儀器處于適宜的工作環(huán)境中。檢查測厚儀的探頭和儀器表面是否清潔。
 

　　2.按下電源開關(guān)，啟動儀器。等待一段時(shí)間，使儀器完成自檢和初始化過程。
 

　　3.使用儀器上的控制按鈕或觸摸屏，設(shè)置測量參數(shù)，如測量模式、測量單位、測量范圍等。根據(jù)需要選擇適當(dāng)?shù)膮?shù)。
 

　　4.將待測厚度的物體放置在測量臺上，確保物體與探頭之間有適當(dāng)?shù)慕佑|。
 

　　5.將探頭輕輕接觸到物體表面，確保探頭與物體垂直，并保持穩(wěn)定。觸發(fā)測量按鈕或使用觸摸屏上的測量命令，儀器將自動進(jìn)行測量。
 

　　6.根據(jù)測量儀器的顯示，記錄測量結(jié)果。通常，會顯示物體的厚度值，并可以在屏幕上顯示圖形或數(shù)據(jù)。
 

　　7.根據(jù)需要，對測量結(jié)果進(jìn)行分析和處理。可以使用儀器上的功能或?qū)?shù)據(jù)傳輸?shù)接?jì)算機(jī)進(jìn)行進(jìn)一步處理。
 

　　8.完成測量后，按下電源關(guān)閉按鈕，關(guān)閉儀器。斷開與電源的連接，并進(jìn)行必要的清潔和維護(hù)。